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動態光散射奈米粒徑界面電位分析儀 SZ-100Z2 DLS PSD and Zeta Potential Analyzer

產品簡述

HORIBA動態光奈米粒徑分析儀最新機種nano Partica SZ-100正式與您見面!

藉由單一奈米粒子的分析測量，具備高敏度、高精確度之特性，並且可同時測量粒徑、Zeta電位及絕對分子量三種數據，是評價奈米粒子的最佳利器!

應用範圍

奈米陶瓷粒子, 奈米金屬粒子, 碳黑, 製藥, 生醫、色粉塗料、化粧品、高分子聚合物、食品、CMP漿料。

粒徑分析

界面電位分析

型號	SZ-100-Z
測量原理	粒徑測量：動態光散射法分子量測量：靜態光散射Debye Plot法 Zeta電位測量：雷射都卜勒電泳動法
測量範圍	粒徑：0.3nm～10um 分子量：1000～2×10 ⁷（DebyePlot） 540～2×10 ⁷（MHS） ^※1 Zeta電位：-500 ~ +500mV 可測得Zeta電位之粒徑範圍2.0nm～100μm (依樣品而異) 導電度範圍：0～20S/m
最大樣品濃度	40wt％(依樣品而異)
粒徑測量精確度	根據ISO13321：1996, JIS Z8826：2005 ±2％(以NISTTraceable PS粒子100nm測量)
粒徑測量角度	90°及173° （依樣品濃度而異）
分析槽	石英比色槽(Cuvette cell) 測量Zeta電位須用附電極之專用分析槽
測量時間	約2分
樣品需用量	最少12μL ^※3～1000μL（依分析槽材質而異）測量Zeta電位須100μL
可使用分散媒	水、酒精、有機溶劑（依分析槽材質而異）測量Zeta電位須用水。
操作界面	USB 2.0
光學系統	光源：半導體雷射光532nm 10mW 偵測器：光電倍增管（PMT）
雷射等級	Class 1
操作環境	15～35℃、RH85%以下
溫控設定	0～90℃（附電極分析槽、塑膠比色槽最高70℃）
清洗	可連接氮氣管路
電源	AC100－240V、50/60Hz、150VA
外觀尺寸	385（D）×528（W）×273（H）mm
重量	25kgs

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