2008年台灣國際奈米展即將於台大登場!
全新HORIBA LA-950提供您更好的選擇!
本公司討論區上線囉!
2007台灣奈米科技展於6月14~16日開展（ 本公司攤位A14）
第十屆台北國際儀器展於6月13~16日隆重登場（ 本公司攤位B103）
TAIPEI CHEM 2006 國際化學暨民生工業展
全新介面電位分析儀測量裝置，歡迎洽詢！
2005年本公司網站全新改版
HORIBA LA-950V2 Particle Size Analyzer with LY-9505 Dry Powder Feeder
日本知名廠牌HORIBA最新機種LA-950V2，是目前最高等級、廣受歡迎的散射式雷射粒徑分析儀，搭配新型乾粉測量裝置，達到最有效率的測量需求：
  1. 濕式測量範圍從10nm~3mm，一分鐘內完成取樣到測量、洗淨及樣品分析，大幅節省操作時間。
  2. 乾濕一體，樣品槽可快速切換，不須重新拆裝。
  3. 乾式分析簡易快速，且無選擇分散媒的困擾。
HORIBA LA-950V2選購配件根據不同測量條件，提供客戶各種配件搭配使用，如：
‧ 微量樣品分析槽組(Fraction Cell Unit)
‧ 黏性樣品分析槽組(Paste Cell Unit)
‧ 自動樣品取樣器(Auto Sampler)
‧ 漿料樣品取樣器(Slurry Sampler)
‧ 蠕動幫浦循環系統：適合須低轉速分析測量的樣品，如乳液。
‧ 大量樣品分析循環系統：適合須大量分析測量的樣品，如沉積物、地質分析、礦物。

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